Page 15 - 涂料工业2024年第02期电子刊
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王烁天等:氟硅缩水甘油醚环氧单体的合成与性能研究

             改善涂层表面的疏水性。这种疏水性的提高主要是
             由于含氟聚硅氧烷化合物具有出色的疏水性                        [13-14] 。

             以 FSi-GE-0. 5% 固化膜为例测试了固化膜的表面元
             素含量,如表2所示。                                              质量保持率/%

                表2 光固化膜表面与内部的 F和Si元素含量
             Table 2 F  and  Si  element  content  on  the  surface
                      and inside of the UV cured film
             项目                  固化膜表面         固化膜内部
                                                                                     温度/℃
             F原子分数/%                18. 1         16. 84
             Si原子分数/%               9. 8           8. 79
             F/C原子分数比               0. 32          0. 30
                                                                     dt (%·℃ -1 )
                 从表 2可以看出,FSi-GE-0. 5%固化膜表面的硅
             和氟含量高于其内部,这表明 FSi-GE 单体在表面富                                                                             探

             集导致固化膜疏水性增强。然而,由于 FSi-GE 单体                           dw /                                              索
             是单官能度单体,添加量增大时双官能度单体 E4221

             的占比相对降低,会导致交联度下降(见表 3)。添加                                                                               开

             量大于 0. 5% 时,体系交联度、相容性下降的影响超
                                                                                       t/℃                           发


             过了 F、Si 元素赋予的低表面能的影响,从而使接触                             ?              ?                ?
                                                                     ?             ?
             角呈下降趋势。
                                                                        图5 含FSi-GE体系光固化膜的热重曲线
                         表3 光固化膜的凝胶率                              Fig. 5 Thermogravimetry curves of cured films with FSi-GE
                    Table 3 Gel rate of UV cured films             表4 含FSi-GE体系光固化膜的热失质量参数
                        FSi-    FSi-   FSi-    FSi-   FSi-      Table 4 Thermogravimetric  parameters  of  cured
                项目      GE-     GE-    GE-     GE-    GE-                films with FSi-GE
                         0%    0. 5%    1%     2%      3%
                                                                          FSi-    FSi-    FSi-    FSi-   FSi-
                       96. 07± 92. 20± 91. 41± 89. 57± 86. 56±   项目       GE-     GE-     GE-     GE-    GE-
             凝胶率/%
                        0. 37   0. 34  0. 41   1. 93  1. 00
                                                                           0%     0. 5%   1%      2%      3%
             2. 4  FSi-GE体系光固化膜的耐热性                              T /℃      142    167     170     158     154
                                                                  5%
                                                                 T  /℃     252    262     260     260     270
                 含 FSi-GE体系光固化膜的热重曲线及相关参数                         max1
                                                                 T  /℃     402    406     407     408     411
             见图5、表4。                                              max2
                                                                    注:T —初始分解温度;T         —第一阶段热降解速率最大
                                                                                       max1
                                                                       5%
                 从图 5 可以看出,无论是否含有 FSi-GE 单体,光                   时所对应的温度;T      max2 —第二阶段热降解速率最大时所对应
                                                                的温度。
             固化膜均出现了两步热降解。第一阶段热分解发生
             在 191~316 ℃,质量损失相对缓慢,归因于残留在光                       2. 5  FSi-GE体系的光固化膜的拉伸性能
             固化膜里未交联的单体;第二阶段热分解发生在                                   图 6 为 FSi-GE 体系光固化膜的拉伸性能测试
             320~480 ℃,固化膜的质量迅速下降,归因于 C—C 键                     结果。
            (键能 347. 3 kJ/mol)、C—O 键(键能 359. 8 kJ/mol)以              从图 6可以看到,FSi-GE-0%空白样的拉伸强度
             及含量较少的 C—F 键(键能 451. 9 kJ/mol)和 Si—O               为 0. 26 MPa,断裂伸长率为 22. 96%,添加 FSi-GE 对
             键(键能 530. 9 kJ/mol)的断裂 ;在 475 ℃时热失质                固化膜的拉伸强度影响较小。但当 FSi-GE添加量从
                                        [15]
             量几乎达到 100%。从表 4 可以看到,当 FSi-GE 含量                   0 增至 0. 5% 时,固化膜的断裂伸长率明显提高至
             增加时,T 、T       和 T   在都有所增加,说明 FSi-GE              41. 22%,这是由于 FSi-GE 主链是硅氧烷链,其中的
                      5%  max1  max2
             的加入明显提高了固化膜的耐热性,这归因于含氟                             Si—O 键和 Si—C 键因键长较长,容易内旋转,侧链的
             聚硅氧烷化合物具有的耐高温性能。                                   甲基可以有效地屏蔽硅氧烷链段的极性,从而降低


                                                                                                           5
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